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[AN105] 關于緩沖校(xiào)驗和(hé♦&)與文(wén)件(jiàn)檢驗和(hé)

2018/5/18 12:13:10      點擊:

相(xiàng)關産品: 編程器(qì)™¥‌ SP8 / SP16系列

相(xiàng)關軟件(jiàn): FlyP£→>RO V4.15+

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概述

編程器(qì)軟件(jiàn)FlyPRO 從(cóng)V4.15版本開∞'•<(kāi)始, 軟件(jiàn)增加文(wén)件₹₹£(jiàn)校(xiào)驗和(hé)信息, 如(₩σ↑→rú)下(xià)圖所示:

文(wén)件(jiàn)校(xiào)驗和(hé)是(shì)加載的(de)文(wén)件(jiàn)數(s↑$©φhù)據所有(yǒu)字節的(de)累加和(hé), 軟件"↓(jiàn)中顯示的(de)為(wèi)十六進♣"π制(zhì)結果.

緩沖校(xiào)驗和(hé)是(shì)數(shù)據緩沖區(qū)所™® π有(yǒu)數(shù)據字節的(de)累加和(hé),→¥ 結果也(yě)是(shì)十六進制(zhì)值.


校(xiào)驗和(hé)顯示值有(yǒu)個(gè)後綴"H", 用(y§×€òng)于表示此值為(wèi)十六進制(zhì). 十六進制≥​(zhì)數(shù)據還(hái)有(yǒu)一(yī)種 α♦表示方式就(jiù)是(shì)以"0x"開(k <₽ āi)頭.

也(yě)就(jiù)是(shì)說(shuō)數(≥λπshù)據12345678H0x12345678 是(shì)一(yī)回事(shì).


校(xiào)驗和(hé)是(shì)非常重要(yào)的→™↓(de)驗證信息, 可(kě)用(yòng)于确保燒錄的(d<±♥‍e)數(shù)據準确. 在燒錄芯片之前必須核對(duì).

文(wén)件(jiàn)校(xiào)驗和(hé)與緩沖區(±™♦qū)校(xiào)驗和(hé)由工(gōng)程人(rén)員(yuán)提§ 供(或客戶提供).


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部分(fēn)用(yòng)戶在驗證芯片數(shù)據時(shí), 可(k₹↑ě)能(néng)會(huì)采用(yòng)讀(dú)取芯片數(shù)據, 再比較校(xiào)驗和(h♦ £λé)的(de)方式, 來(lái)驗證芯片的(de)數(shù★"≈)據是(shì)否正确, 這(zhè)種方式不(bù)科↓↕(kē)學, 是(shì)錯(cuò)誤的(de).✔¥​

因為(wèi)簡單的(de)數(shù)據累加和(hé)δ¶ 值, 即使結果一(yī)樣, 也(yě)不(bù)能(néng)保證其數(shù)據就(jiù)絕對(du≤↕≈§ì)一(yī)樣.  建議(yì)↓©£采用(yòng)下(xià)面的(de)方式驗證芯片數(shù)據:‌​☆


推薦芯片驗證方式:

1. 加載文(wén)件(jiàn)數(shù)據, $™©并核對(duì)文(wén)件(jiàn)校(xiào)驗和(hé)/或者緩​‌>₹沖區(qū)校(xiào)驗和(hé)與工(gōng)程信息一(yī)樣. φ&

2. 放(fàng)置芯片在燒錄器(qì)插座上(shà↕§ ∞ng)

3. 點擊"手動操作(zuò)"->"校(xiào)驗&← ", 校(xiào)驗如(rú)果沒有(yǒu)提示錯(cuò)誤, 則表"♦≈示芯片數(shù)據準确, 沒有(yǒu)問(↕☆wèn)題.

4. 重複操作(zuò)步驟2~3, 驗證其他(tā)芯片.


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常見(jiàn)問(wèn)題

1. 為(wèi)何緩存區(qū)校(xiào)驗和(hé)與文(w'¥γén)件(jiàn)檢驗和(hé)有(yǒu)時(sh♦₹¥§í)會(huì)不(bù)一(yī)樣?

如(rú)果文(wén)件(jiàn)數(δβshù)據大(dà)小(xiǎo)與芯片容量不(bù)等, 則其計(jì)算(suàn)結果會(huì)不(bù)一(yī£ π✔)樣.

例如(rú)當前芯片是(shì)一(yī)個(gè)16M bit¶←≠₽s (即4M字節)的(de)FLASH, 加載的(de)文(wén)×∑¶ 件(jiàn)隻有(yǒu)3.8M字節.

2. 在文(wén)件(jiàn)校(xiào)驗和(hé)與"₹™£緩沖校(xiào)驗和(hé)不(bù)一(yī)樣時♥₹(shí), 如(rú)何處理(lǐ), 有(yǒu)什(shéΩφn)麽注意事(shì)項?

為(wèi)保證燒錄數(shù)據的(de)準确性, ✔♠↓我們建議(yì), 當文(wén)件(jiàn)小(xi"  ǎo)于芯片容量大(dà)小(xiǎo), 除了(le)要(↑§±∏yào)記錄該文(wén)件(jiàn)的(de)數(shù)據校(xiàoσ™β)驗和(hé), 還(hái)必須記錄該文(wén)件(jiàn)在™×≥≈指定容量芯片的(de)時(shí)的(de)緩沖區(qū)校(xiào≥÷)驗和(hé).







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